鍍層厚度測試儀測量過程中，為什么有時(shí)候測量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差？

　　因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的。單對鍍層厚度測試儀來說，主要有下面幾種原因引起測量不準(zhǔn)確。

　　（1）強(qiáng)磁場的干擾。我們曾做過一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

　?。?）人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。鍍層厚度測試儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。

　?。?）在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體。基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

　?。?）附著物質(zhì)的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　?。?）儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

　?。?）鍍層厚度測試儀測量過程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)清除以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。