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X熒光光譜儀
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產(chǎn)品分類(lèi)天瑞EDx射線熒光譜分析儀是一種較新型的可以對(duì)多元眾進(jìn)行快速同時(shí)側(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線(即X一熒光).波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線所采用的兩 EDx射線熒光譜分析儀EDX3600H是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類(lèi)型。
天瑞X熒光光譜儀EDX3600K由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。X熒光光譜儀屬于良好的分析檢測(cè)儀器,隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類(lèi)分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)。
國(guó)內(nèi)X熒光光譜儀Edx9000p正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn),采用分析儀器行業(yè)良好的極速探測(cè)器技術(shù)(X-SDD)可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX 9000P還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制,多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開(kāi)發(fā)的樣品腔使操作更加方便,全新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓準(zhǔn)確檢測(cè)得到保證。
XRF熒光光譜儀EDX4500H是一種較新型的可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線(即X熒光)。波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。
國(guó)產(chǎn)X熒光光譜分析儀EDX4500H是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析,在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。