天瑞儀器 EDX600PLUS 是一款下照式結(jié)構(gòu)的能量色散 X 熒光光譜儀鍍層測厚儀，以下是它的一些詳細(xì)介紹1：
工作原理：將 X 射線照射在樣品上，通過測量從樣品上反射出來的二次 X 射線的強(qiáng)度來計(jì)算鍍層等金屬薄膜的厚度。由于采用 X 射線熒光技術(shù)，屬于無接觸無損測量，不會對樣品造成損壞。
硬件配置：
進(jìn)口的高功率高壓單元搭配微焦斑的 X 光管，保證了信號輸出的效率與穩(wěn)定性。
采用高分辨率 Fast - SDD 探測器，分辨率高達(dá) 140eV，能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號，地將不同的元素準(zhǔn)確解析，針對多鍍層與復(fù)雜合金鍍層的測量具有優(yōu)勢。
可搭配多種超小準(zhǔn)直器，如 0.1×0.3mm、Φ0.15mm、Φ0.2mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm 等，得到超小光斑，讓更小樣品的測量變得游刃有余。
設(shè)計(jì)亮點(diǎn)：
全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式按鈕，極大減少擺放樣品時(shí)間。
全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實(shí)現(xiàn)對更小產(chǎn)品的測試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補(bǔ)正算法，可對不規(guī)則樣品（如凹凸面、拱形、螺紋、曲面等）的異型測試面進(jìn)行精準(zhǔn)測試。
軟件界面：人性化的軟件界面，操作便捷。曲線有中文備注，易于上手。同時(shí)能實(shí)時(shí)監(jiān)控儀器硬件功能，讓使用更加放心。
功能特點(diǎn)：
應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域，可用于連接器、汽車配件、線路板、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的鍍層厚度測量。
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