技術(shù)文章
Technical articles合金分析儀是現(xiàn)場測試的工具，流線型的造型帶給你全新的視覺沖擊；大方的色彩展現(xiàn)出穩(wěn)重的*魅力；精致的內(nèi)核融合了科技之美；嚴(yán)密的防護(hù)裝置，構(gòu)筑安全可靠的防火墻；小巧輕便，貫徹人性化理念。合金分析儀的主要特點：1、采用低功率端窗一體化微型光管，功耗低，激發(fā)效率高。結(jié)合使用大面積鈹窗電冷檢測儀，合金分析儀具有與臺式電腦檢測相近的性能。2、體積小，攜帶方便，便于野外作業(yè)。隨時隨地，現(xiàn)場分析和原位分析。3、合金分析儀采用高分辨率PDA作為主機(jī)，結(jié)合無線藍(lán)牙通訊微量多道分析儀技術(shù)，儀器使用...
鍍層膜厚儀是一種測量鍍層厚度的精密儀器，由于現(xiàn)在對鍍層進(jìn)行測量已經(jīng)成為了加工工業(yè)以及表面工程檢測中的一個重要環(huán)節(jié)，所以鍍層膜厚儀也就成為進(jìn)行檢測的有效工具，而且通過高效的鍍層膜厚儀檢測還能促進(jìn)產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。那么在使用時有哪些方法可以提高鍍層膜厚儀的測量精度呢？1、提高工件表面光滑度如果被測量的工件表面過于粗糙，那么就會對鍍層的測量造成一定影響，會導(dǎo)致測量的精確度下降。為了能有效提高鍍層膜厚儀的測量精度，首先要確保被檢測的工件表面擁有足夠的光滑程度。此外如果工件表面有其...
鍍層厚度測試儀測量過程中，為什么有時候測量數(shù)據(jù)會出現(xiàn)明顯偏差？因為就儀器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的。單對鍍層厚度測試儀來說，主要有下面幾種原因引起測量不準(zhǔn)確。（1）強磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實驗，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。（2）人為因素。這中情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。鍍層厚度測試儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對...
合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。能量色散X螢光與波...
鍍層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用頻率變化的厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。鍍層測厚儀誤差的解決辦法：測厚儀在實際應(yīng)用中，尤其是在役設(shè)備的監(jiān)測中，如果出現(xiàn)示值失真，偏離實際厚度的現(xiàn)象，結(jié)果造成管線（設(shè)備）隱患存在，就是依據(jù)錯誤的數(shù)據(jù)更換了管件，造成大量材料浪費。根據(jù)幾年來測厚...
X熒光光譜儀屬于無損害的測量儀器設(shè)備，它的優(yōu)勢就是在測量樣品時不需要提前進(jìn)行特殊的處理即可測量的儀器，能夠迅速獲得測量的結(jié)果。但對于樣品形狀、大小能夠滿足測量的需求，以及是否存在干擾元素都將對X熒光光譜儀測量結(jié)果的精準(zhǔn)度造成一定的影響。樣品大小應(yīng)依據(jù)X熒光光譜儀光斑的大小進(jìn)行區(qū)分，光斑可以*照在樣品上并且其的厚度也能達(dá)到相應(yīng)的要求，能直接放置在測試室當(dāng)中進(jìn)行測量。光斑無法直接照在樣品上，也就是說樣品小于光斑，應(yīng)該放在同一樣品杯中，達(dá)到相應(yīng)量，再進(jìn)行壓緊，切不可留有間隙，最后實...
鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法。但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差，為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有必要對其進(jìn)行不確定度分析。鍍層厚度的測試方法按照測試方法的基本原理類型可以分為化學(xué)法、電化學(xué)法和物理法三大類。其中，⑴化學(xué)法包括化學(xué)溶解分析法、化學(xué)溶解稱重法和化學(xué)溶解液流計時法；⑵電化學(xué)法包括電化學(xué)陽極溶解法(庫侖法)；⑶物理法包括直接測量法和儀器測量法(磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等)。鍍層厚度...
X熒光光譜儀是一種常用的光譜技術(shù)，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應(yīng)用用途，X熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術(shù)可以對一些低原子序數(shù)元素進(jìn)行檢測分析，甚至是在空氣氣氛中也能進(jìn)行檢測，例如用于測量化學(xué)鍍鎳涂層中磷元素（原子序數(shù)Z=15）的含量。但是，大多數(shù)的低原子序數(shù)元素的檢測分析依然還需要隔離空氣氣氛。近年來比較流行的是一種...
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